Fysiikan mittausmenetelmät II (syksy 2011)

HUOM!

Almaan on perustettu kurssille oma työryhmäalue, josta löydät mm. luennot (eivät tule kansioon), ohjelman, tiedotteet jne. Linkki: https://alma.helsinki.fi/tab/133092

Osa luennoista pidetään englanniksi!

Luentojen järjestelyt ja vierailut

Jyrki Räisänen, jyrki.raisanen@helsinki.fi, puh 50082

Harjoitukset ja seminaariesitelmät

Tehtävät ja seminaariohjelma tulevat Almaan.

Kurssin tavoite

Kurssin tavoitteena on antaa kokeelliselle fyysikolle perustiedot käsiteltävistä ajankohtaisista mittausmenetelmistä, niiden ominaisuuksista ja käytöstä.

• mittausteoria ja koejärjestelmän suunnittelu (sisältäen laitetekninen lukutaito)
• mittauslaitteistojen ominaisuudet ja toimintaperiaatteet

Kurssin suorittaminen

• luennot: ti klo 10-12 ja to klo 10-12 salissa Sh115, Kiihdytinlaboratorio (ensimmäinen tapaaminen ti 6.9.2011).
• harjoitukset ja seminaariesitelmät/posteriesitykset: ke klo 14-16 salissa Sh 115, Kiihdytinlaboratorio. Kurssin aikana tulee pitää yksi seminaariesitelmä tai posteriesitys, ajat sovitaan erikseen.
• välikokeet:Kaksi koetta, ajat tulevat Almaan.
• kirjallinen harjoitustyö: pakollinen, arvostellaan ja tehdään ryhmissä (noin 8-10 sivua).
• vierailut ja kiertokäynnit: Kiertokäynnit laboratorioissa ja vierailut laitoksissa, ajat sovitaan erikseen.
• demot: LabView, Autodesk Inventor ... (luentojen yhteydessä)

Kurssin arvostelu

• Välikokeet 90%
• Kirjallinen harjoitustyö 10%
• Osallistuminen 2/3:aan vierailuista, demoista, harjoitustehtävistä ja esitelmistä pakollista. Ylittävästä osuudesta saa lisäpisteitä

Kurssin alustava sisältö

• Lämpötilan mittaaminen, siirtymän mittaaminen
• Virtauksen mittaaminen
• Materiaalit ja tyhjiötekniikka
• Ohutkalvotekniikka
• Scanning Probe Methods (AFM, STM ..)
• Electron Microscopy (SEM/TEM), SIMS
• Optical methods, ultrasoniikka
• LabView ja Autodesk Inventor demot
• Ionisoivan säteilyn mittaaminen, mittauselektroniikka
• Röntgensäteilyn käyttöön perustuvat menetelmät (tomografia, synkrotronisäteilyn käyttö)
• Surface techniques (Auger, XPS...)

Kirjallisuutta ja opiskelumateriaalia

• Luennot (ladattavissa Almassa)
• Sayer, Mansigh: Measurement, Instrumentation and Experiment Design in Physics and Engineering (Prentice-Hall of India Publications 2000)
• Bentley: Principles of Measurement Systems (Longman 1983/1988/1995), kirjastossa mm. käsikirjastossa.
• Knoll: Radiation Detection and Measurement (Wiley 1979/1989/1999).